徠卡離子減薄儀的薄軸承樣品臺在減薄過程中對離子束無遮擋。觀察系統中做了特殊設計，無需加裝其它光學系統，直接監視樣品是否穿孔，十分方便，并裝有自動防污染裝置，防止照明及觀察窗被污染。真空系統中裝有防誤操作系統，防止由于誤放氣而損害真空系統。
 

　　對于透射顯微術，樣品制備是一個很重要的實驗室環節，制備樣品的質量起直接影響實驗結果的重要性。目前基本上有兩種制備透射電鏡薄膜樣品的方法：一是雙噴電解減薄法；這種方法要求所制備的樣品必須是導電材料，而且材料內部各相區之間電化學勢的差別不能太懸殊，否則有的相區將產生擇優腐蝕，限制了透射電子顯微術的應用領域和效能發揮。
 

　　徠卡離子減薄儀操作注意事項：
 

　　1.必須經管理人員同意方可使用；
 

　　2.樣品在離子減薄前要通過機械研磨或凹坑，厚度要小于30um。
 

　　3.樣品臺一定要水平(沿X軸方向)放置到樣品室中。
 

　　4.在離子減薄過程中，每個樣品前60%的時間用10°角，中間20%的時間用7°角，20%的時間用4°角。
 

　　5.離子槍每工作1小時一定要停止15分鐘，如果連續工作會燒壞離子槍。
 

　　6.離子束調節開關(lon Beam Modulator)要在Double狀態，切忌在off狀態。
 

　　徠卡離子減薄儀適用性廣泛，對金屬，非金屬，半導體，礦物，骨骼和牙齒等幾乎所有固體材料都可以用離子減薄技術來制備透射薄膜樣品。離子轟擊材料各相區的擇優傾向不明顯，一般都可獲厚度較為均勻地薄區，在電鏡中觀察時有更廣闊的視野功選擇，也可對樣品進行大角度傾斜以獲得預期結果。